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硬件工程師調(diào)試MIPI屏經(jīng)驗 MIPI 接口的sensor問題 MIPI接口的DSI的驅(qū)動問題
硬件工程師調(diào)試mipi屏經(jīng)驗 mipi 接口的sensor問題 mipi接口的dsi的驅(qū)動問題
更新時間:2026-01-12
MIPI LCD接口 MIPI主板 MIPI故障分析與解決 MIPI調(diào)試經(jīng)驗 MIPI硬件開發(fā) MIPI驅(qū)動
mipi lcd接口 mipi主板 mipi故障分析與解決 mipi調(diào)試經(jīng)驗 mipi硬件開發(fā) mipi驅(qū)動
更新時間:2026-01-12
MIPI調(diào)試經(jīng)驗 MIPI硬件開發(fā) MIPI驅(qū)動 硬件工程師調(diào)試MIPI屏經(jīng)驗
mipi調(diào)試經(jīng)驗 mipi硬件開發(fā) mipi驅(qū)動 硬件工程師調(diào)試mipi屏經(jīng)驗
更新時間:2026-01-12
MIPI調(diào)試經(jīng)驗 MIPI硬件開發(fā) MIPI驅(qū)動 硬件工程師調(diào)試MIPI屏經(jīng)驗 MIPI 接口的sensor問題
mipi調(diào)試經(jīng)驗 mipi硬件開發(fā) mipi驅(qū)動 硬件工程師調(diào)試mipi屏經(jīng)驗 mipi 接口的sensor問題
更新時間:2026-01-12
MIPI攝像頭 MIPI眼圖測試 MIPI LCD接口 MIPI主板 MIPI故障分析與解決
mipi攝像頭 mipi眼圖測試 mipi lcd接口 mipi主板 mipi故障分析與解決從軟件層面,再回顧下數(shù)據(jù)格式,加深在數(shù)據(jù)線上有3 種可能的操作模式:escape mode, high-speed (burst) mode and control mode,下面是從停止狀態(tài)進入相應(yīng)模式需要的時序:
更新時間:2026-01-12
LPDDR5 存儲器芯片測試,LPDDR5 眼圖測試,LPDDR5 時序抖動測試,JEDEC JESD209-5 合規(guī)測試,高速存儲器信號完整性測試
ats-msi 4000是阿儀網(wǎng)針對lpddr4及高速存儲器芯片推出的專業(yè)級信號完整性測試平臺。系統(tǒng)深度融合高精度眼圖分析、皮秒級時序測量與深度抖動分解功能,提供從研發(fā)調(diào)試、預(yù)合規(guī)驗證到失效分析的完整解決方案。其應(yīng)對低電壓、高速度的優(yōu)化設(shè)計,特別適合移動設(shè)備、汽車電子等領(lǐng)域?qū)Υ鎯ζ鹘涌诘膰揽硫炞C需求。
更新時間:2026-01-12
LPDDR4替代驗證系統(tǒng) LPDVT-4000
lpdvt-4000是阿儀網(wǎng)專為lpddr4國產(chǎn)化替代設(shè)計的性能驗證平臺,支持4266mbps高速測試,提供從基礎(chǔ)功能到可靠性的全流程驗證方案,重點解決低電壓、高速度帶來的測試挑戰(zhàn)。
更新時間:2026-01-12
解決MIPI屏黑屏問題 MIPI調(diào)試過程 MIPI接口屏閃屏的測試 分析與解決方法
解決mipi屏黑屏問題 mipi調(diào)試過程 mipi接口屏閃屏的測試 分析與解決方法依據(jù)ccir編碼表,sav和evav之間的保護數(shù)據(jù)是被編碼過的,使用這種方法,編碼器可以糾正1-bit錯誤,可以檢查2-bit的錯誤。該特征只是在csi的ccir編碼中,僅僅是奇偶交錯模式中支持。
更新時間:2026-01-12
分析與解決方法 MIPI C-PHY D-PHY 眼圖測試
分析與解決方法 mipi c-phy d-phy 眼圖測試當(dāng)幀結(jié)束或者是個在rxfifo中的完整的幀數(shù)據(jù)被全部讀出時,eof中斷就產(chǎn)生了,eof并不在csi的prp模式中使用。該中斷是用在ccir奇偶域交錯的模式下使用,該中斷當(dāng)field 1 和field 2交錯的時候產(chǎn)生。f1_int和f2_int會產(chǎn)生
更新時間:2026-01-12
解決MIPI屏黑屏問題 MIPI調(diào)試過程 MIPI接口屏閃屏的測試
解決mipi屏黑屏問題 mipi調(diào)試過程 mipi接口屏閃屏的測試bayer數(shù)據(jù)是個從圖像傳感器獲得典型的行數(shù)據(jù)。該數(shù)據(jù)寬度定要通過軟件轉(zhuǎn)化為rgb空間或者是yuv空間的數(shù)據(jù)格式。pack_dir bit設(shè)置為0,表示系統(tǒng)是小端,不是大端系統(tǒng)。使用p0,p1,p2,p3存放了打包了的數(shù)據(jù)內(nèi)容,p0是個data,依次,p3是個data.
更新時間:2026-01-12
MIPI CLK眼圖 DATA眼圖測試與分析 解決MIPI屏黑屏問題
mipi clk眼圖 data眼圖測試與分析 解決mipi屏黑屏問題mx27提供了個非常業(yè)的攝像頭csi接口,可以配置相關(guān)的口進行接口匹配。我們的攝像頭是ov9660,輸出設(shè)定為yuv模式,因此,csi獲取的數(shù)據(jù)也是yuv格式的數(shù)據(jù),因此還需要通過軟件,將yuv的格式轉(zhuǎn)化為rgb565、rgb656、rgb888格式放到lcdc對應(yīng)的memory進行顯示輸出。
更新時間:2026-01-12
MIPI C-PHY D-PHY 眼圖測試 MIPI屏 初始化指令問題
mipi c-phy d-phy 眼圖測試 mipi屏 初始化指令問題像素可以放映到你的抓圖上面的大小,該像素就是說明你的cmos或者是ccd感光元件的像素點多少,可以想象在相同的面積上,數(shù)量越多,感光元件肯定要越小,感光元件小,那么圖像的質(zhì)量其實會變差,這個當(dāng)然可以理解,但是從大的方面來說,只要鏡頭好,光源充足,那么效果也會變好,這樣畫面就比像素低的更加的細膩,所以高像素的好處就在這里。
更新時間:2026-01-12
MIPI眼圖 數(shù)據(jù) CLK眼圖 DATA眼圖測試與分析 解決MIPI屏黑屏問題 MIPI調(diào)試過程
mipi眼圖 數(shù)據(jù) clk眼圖 data眼圖測試與分析 解決mipi屏黑屏問題 mipi調(diào)試過程mx27提供了個非常業(yè)的攝像頭csi接口,可以配置相關(guān)的口進行接口匹配。
更新時間:2026-01-12
SF6氣體綜合測試儀(集SF6濕度、SF6純度、SF6分解產(chǎn)物測試于一體)
sf6 綜合測試儀是集 sf6濕度、sf6純度、sf6 分解產(chǎn)物測試于一體,將原來要用三臺儀器才能實現(xiàn)的功能,集中在一臺儀器一次現(xiàn)場測量,完成三項指標檢測,節(jié)省了設(shè)備中的氣體,減少用戶的工作量.采用國外的傳感器;濕度采用純進口高精度濕度傳感器、純度采用帶溫度補償?shù)臒釋?dǎo)傳感器,分解產(chǎn)物采用歐洲進口的傳感器。彩色液晶顯示,實時顯示各種參數(shù)全程觸控,傻瓜式操作,海量信息存儲,內(nèi)置充電電池,交直流兩用。
更新時間:2026-01-12
交直流分壓器,高壓數(shù)字表
精度高:采用精密高壓薄膜電容和精密高壓玻璃釉電阻,輸入阻抗高,降低了測試電流,功耗小,提高了儀器的測量精度和穩(wěn)定性。信號處理部分,采用高性能op進行信號放大,運用雙積分式 ad采樣技術(shù),四位半液晶顯示,最高分辨率達到0.001kv,是高壓靜電電壓表的更新?lián)Q代產(chǎn)品。操作簡單:采用撥碼開關(guān)切換高低壓、交直流,方便快捷。四位半液晶直接顯示測量結(jié)果,簡單直觀。為現(xiàn)場的檢測工作帶來極大的便利。
更新時間:2026-01-12
絕緣子鹽密度、灰密度測試儀
用于檢測電力線路中絕緣子的污穢附著情況,可一次測量絕緣子鹽密度和灰密度,簡化了絕緣子污穢檢測的流程,非常適合巡檢現(xiàn)場和實驗室使用。電力線路中絕緣子的污穢程度主要通過鹽密度(esdd)和灰密度的(nsdd)來表征,同時具備測量鹽密度和灰密度的功能。內(nèi)置了常用溶液體積、絕緣子型號,方便用戶直接調(diào)用,絕緣子型號與表面積支持用戶自定義,增加數(shù)據(jù)保存功能,保存十萬組測試數(shù)據(jù),本機查看數(shù)據(jù),支持u盤導(dǎo)出數(shù)據(jù),
更新時間:2026-01-12
廠家批發(fā)GJ4/40(A)甲烷傳感器
gjc4/40高低濃瓦斯傳感器廠家供應(yīng) gjc4/40高低濃瓦斯傳感器制造商 gjc4/40高低濃瓦斯傳感器價格電聯(lián)gj4/40(a)甲烷傳感器量大從優(yōu) 廠家直供gjc4/40(x)甲烷傳感器gj4/40(a)甲烷傳感器價格電聯(lián) 廠家批發(fā)gj4/40(a)甲烷傳感器
更新時間:2026-01-09
泰克tektronix 以太網(wǎng)一致性測試夾具
泰克tektronix 以太網(wǎng)一致性測試夾具 泰克tektronix 以太網(wǎng)一致性測試夾具,硬件測試,ddr測試,時序測試,紋波測試,抖動測試
更新時間:2026-01-09
百年傳承,正品保障!希而科代理進口Frizlen電阻器,助力設(shè)備穩(wěn)定運行
希而科作為 frizlen 官方授權(quán)代理,直供德國原裝功率電阻器。frizlen 始于 1914 年,經(jīng)四代家族傳承,產(chǎn)品通過 iso 9001 與 iatf 16949 認證,功率覆蓋 10w 至數(shù)百 kw,適配工業(yè)自動化、新能源、軌道交通等多場景。依托希而科德國本土采購與拼單優(yōu)勢,提供 100% 正品保障、穩(wěn)定貨期及全流程服務(wù),涵蓋標準化產(chǎn)品與定制方案,助力設(shè)備穩(wěn)定運行。
更新時間:2026-01-09
12.5mm試驗探棒IP20C試驗探棒12.5試驗探球
12.5mm試驗探棒|ip20c試驗探棒基本簡介:1、根據(jù)din40050等相應(yīng)條款制作而成。2、12.5mm試驗探棒是進行家用和類似用途電器防觸電保護試驗的必備器具。
更新時間:2026-01-09
IPX56防噴水試驗噴頭IPX6強噴水試驗裝置
ipx56防噴水試驗噴頭/ipx6強噴水試驗裝置ipx5防噴水試驗噴嘴一、 產(chǎn)品概述:防噴水試驗裝置是依據(jù)gb4208的ipx5及ipx6、iec60529等標準的相關(guān)條款要求制作,用于對具有防噴水功能的器具或電器的防水性能進行測試
更新時間:2026-01-09
燈頭溫升試驗鎳圈E14燈頭溫升試驗鎳圈E39溫升試驗燈座
燈頭溫升試驗鎳圈滿足gb/t24392-2009 和 iec60360:2002相關(guān)燈頭溫升測試標準要求制作而成。成分:ni純度99.6%以上的日本進口純鎳;結(jié)構(gòu)和特性: 材料的晶粒應(yīng)精細且有規(guī)則結(jié)構(gòu),晶粒度:zui小值為astm8(zui大不超過0.019
更新時間:2026-01-09
兒童試驗彎指19號試驗探棒試具19
深圳兒童試驗彎指/19號試驗探棒基本簡介:1、根據(jù)gb4706.1、iec61032-1997及 ul等相應(yīng)條款制作而成。2、19號兒童試驗彎指(19號試驗探棒)是進行家用和類似用途電器防觸電保護試驗的必備器具。
更新時間:2026-01-09
配電柜3C檢測用IP4X試具IP40試驗探針I(yè)P4X試驗探棒
配電柜3c檢測用ip4x試具/ip40試驗探針基本簡介: 1、根據(jù)gb/t4208-2008、iec61032:1997、iec60529:2001及ul等相應(yīng)條款制作而成。2、d類試驗探棒(d類試驗針)是進行家用和類似用途電器防觸電保護試驗的必備器具。
更新時間:2026-01-09
IP10試驗探棒IP1X試驗探球試具A鋼球探棒
ip10試驗探棒/ip1x試驗探球基本簡介:1、根據(jù)gb/t4208-2008、iec61032:1997、iec60529:2001及ul等相應(yīng)條款制作而成。2、a類試驗探棒(a類試驗探球)是進行家用和類似用途電器防觸電保護試驗的必備器具。
更新時間:2026-01-09
彈簧沖擊器IK碰撞能量試驗裝置0.5J彈簧沖擊錘
彈簧沖擊器/ik碰撞能量試驗裝置 基本簡介:1、根據(jù)iec60068-2-75、gb/t2423.55-2006、gb4706.1、gb8898和gb7000、 iec884及ul1244等相應(yīng)條款制作而成,主要用于檢驗家用和類似電器產(chǎn)品的外殼、操作桿、手柄、旋鈕、指示燈等外殼承受機械沖擊的能。2、本沖擊器外殼采用鋁制作。
更新時間:2026-01-09
插座保護門試驗探針1N試驗探針保護門試驗探針
插座保護門試驗探針/1n試驗探針基本簡介:1、根據(jù)gb2099.1-2008,gb8898-97及相關(guān) iec等相應(yīng)條款制作而成。2、試驗探針是進行家用和類似用途電器防觸電保護試驗的必備器具。
更新時間:2026-01-09
標準試驗指甲測試指甲試驗指甲
標準試驗指甲測試指甲 基本簡介:1、根據(jù)gb4706.1-2005、iec60335-1及 ul等標準制作而成。2、試驗指甲主要針對電擊或接觸運動部件的不可拆卸零件能否經(jīng)受得住正常使用中出現(xiàn)的機械應(yīng)力,達到規(guī)定防護等進行測試的設(shè)備。$r
更新時間:2026-01-09
深圳標試驗指針銷GB4706.1試驗指標準試驗指棒銷
標試驗指針銷gb4706.1試驗指基本簡介:1、根據(jù)gb4706.1、gb2099.1及相關(guān) iec、 ul等相應(yīng)條款制作而成。2、標準試驗指針銷是進行家用和類似用途電器防觸電保護試驗的必備器具。
更新時間:2026-01-09
UL試驗彎指UL鉸接試驗指PA100A試驗探棒
ul試驗彎指ul鉸接試驗指pa100a探棒基本簡介:1、根據(jù)ul1278、ul1026及ul507等相應(yīng)條款制作而成。2、ul試驗彎指是進行家用和類似用途電器防觸電保護試驗的必備器具。
更新時間:2026-01-09
IPX34花灑式淋雨試驗裝置IPX34手持式防淋水濺水試驗裝置
ipx34花灑式淋雨試驗裝置ipx34手持式防淋水濺水試驗裝置 試驗標準:符合 iec60529:2001《degrees of protection provided by enclosures(ip code)》、gb4208-2008《外殼防護等(ip 代碼)》14.2.3、14.2.4 條款與圖 5
更新時間:2026-01-09
IEC61032試驗探棒GB4706.1全套試驗指標準試驗指
iec61032試驗探棒gb4706.1全套試驗指基本簡介:1、根據(jù)iec61032、gb4706.1、gb2099.1、 iec60695、ul等相應(yīng)條款制作而成。2、試驗探棒是進行家用和類似用途電器防觸電保護試驗的必備器具。
更新時間:2026-01-09
Nand Flash 眼圖測試, 時序測試,抖動測試 幅度測試操作細節(jié)
nfps-5000是阿儀網(wǎng)專為nand flash測試開發(fā)的精密測試平臺,集成四大測試模塊,提供從基礎(chǔ)測試到分析的全套解決方案。系統(tǒng)支持自動化測試流程,大幅提升測試效率和準確性。
更新時間:2026-01-09
梅特勒電極(有問題,產(chǎn)品上留有碎渣)
梅特勒電極ha405-dpa-sc-s8/120(有問題,產(chǎn)品上留有碎渣) 硬件開放實驗室 開放實驗室 儀器租賃
更新時間:2026-01-09
EMMC 上電時序測試 電源紋波測試
emmc 上電時序測試 電源紋波測試emmc 芯片下方在敷銅時,焊盤部分要增加敷銅禁布框,避免銅皮分布不均影響散熱,導(dǎo)致貼片虛焊。
更新時間:2026-01-09
EMMC 時鐘測試 數(shù)據(jù)信號測試
emmc 時鐘測試 數(shù)據(jù)信號測試電源紋波測試過大的問題通常和使用的探頭以及端的連接方式有關(guān)。先檢查了用戶探頭的連接方式,發(fā)現(xiàn)其使用的是如下面左圖所示的長的鱷魚夾地線,而且接地點夾在了單板的固定螺釘上,整個地環(huán)路比較大。由于大的地環(huán)路會引入更多的開關(guān)電源造成的空間電磁輻射噪聲以及地環(huán)路噪聲,于是更換成如下面右圖所示的短的接地彈簧針。
更新時間:2026-01-09
EMMC 控制信號測試 控制信號過沖測試 控制信號高低電平測試
emmc 控制信號測試 控制信號過沖測試 控制信號高低電平測試
更新時間:2026-01-09
EMMC 復(fù)位測試 CLK測試 DQS測試
emmc 復(fù)位測試 clk測試 dqs測試這是個典型的電源紋波測試的問題。我們通過使用短的地線連接、換用低衰減比的探頭以及帶寬限制功能使得紋波噪聲的測試結(jié)果大大改善。
更新時間:2026-01-09
EMMC4 上電時序測試 電源紋波測試 時鐘測試 數(shù)據(jù)信號測試
emmc4 上電時序測試 電源紋波測試 時鐘測試 數(shù)據(jù)信號測試實際上就是把電纜的頭接在示波器上,示波器設(shè)置為50歐姆輸入阻抗;電纜的另頭剝開,屏蔽層焊接在被測電路地上,中心導(dǎo)體通過個隔直電容連接被測的電源信號。這種方法的優(yōu)點是低成本,低衰減比,缺點是致性不好,隔直電容參數(shù)及帶寬不好控制。
更新時間:2026-01-09
Emmc5 上電時序測試 電源紋波測試 時鐘測試 數(shù)據(jù)信號測試
相關(guān)產(chǎn)品:emmc5 , 上電時序測試 , 電源紋波測試 , 時鐘測試 , 數(shù)據(jù)信號測試通俗的來說,emmc=nand閃存+閃存控制芯片+標準接口封裝。
更新時間:2026-01-09
EMMC4 復(fù)位測試 CLK測試 DQS測試
emmc4 , 復(fù)位測試 , clk測試 , dqs測試emmc則在其內(nèi)部集成了 flash controller,包括了協(xié)議、擦寫均衡、壞塊管理、ecc校驗、電源管理、時鐘管理、數(shù)據(jù)存取等功能。
更新時間:2026-01-09
EMMC5 復(fù)位測試 CLK測試 DQS測試
emmc5 復(fù)位測試 clk測試 dqs測試包括card interface(cmd,data,clk)、memory core interface、總線接口控制(card interface controller)、電源控制、寄存器組。
更新時間:2026-01-09
EMMC5 復(fù)位測試 CLK測試
emmc5 復(fù)位測試 clk測試mmc通過發(fā)cmd的方式來實現(xiàn)卡的初始化和數(shù)據(jù)訪問。device identification mode包括3個階段idle state、ready state、identification state。
更新時間:2026-01-09
PCIE2.0 3.0 驗證 調(diào)試和一致性測試解決方案
遇到的問題pcie link不穩(wěn)定配置空間讀寫正常,memory mapping空間讀寫異常
更新時間:2026-01-09
PCIE2.0 3.0 物理層一致性測試
cie2.0 3.0 物理層致性測試pcie總線與pci總線不同,pcie總線使用端到端的連接方式,在條pcie鏈路的兩端只能各連接個設(shè)備,這兩個設(shè)備互為是數(shù)據(jù)發(fā)送端和數(shù)據(jù)接收端。pcie鏈路可以由多條lane組成,目pcie鏈路×1、×2、×4、×8、×16和×32寬度的pcie鏈路,還有幾乎不使用的×12鏈路。
更新時間:2026-01-09
PCIE2.0 3.0 TX 發(fā)送 物理層一致性測試
pcie總線的層次組成結(jié)構(gòu)與網(wǎng)絡(luò)中的層次結(jié)構(gòu)有類似之處,但是pcie總線的各個層次都是使用硬件邏輯實現(xiàn)的。在pcie體系結(jié)構(gòu)中,數(shù)據(jù)報文先在設(shè)備的核心層(device core)中產(chǎn)生,然后再經(jīng)過該設(shè)備的事務(wù)層(transactionlayer)、數(shù)據(jù)鏈路層(data link layer)和物理層(physical layer),終發(fā)送出去。
更新時間:2026-01-09
PCIE2.0 3.0 RX 接收 物理層一致性測試
pcie2.0 3.0 rx 接收 物理層致性測試當(dāng)pcie設(shè)備進入休眠狀態(tài),主電源已經(jīng)停止供電時,pcie設(shè)備使用該信號向處理器系統(tǒng)提交喚醒請求,使處理器系統(tǒng)重新為該pcie設(shè)備提供主電源vcc。
更新時間:2026-01-09
PCIE Gen2/Gen3/Gen4 發(fā)送端 信號質(zhì)量一致性測試
pcie 初始化完成后會進入l0狀態(tài)。異常狀態(tài)見pcie link 異常log。物理層link 不穩(wěn)定,懷疑以下原因:- 高速串行信號質(zhì)量問題- serdes電源問題- 時鐘問題
更新時間:2026-01-09
pcie2.0x4 眼圖測試 物理層一致性測試
pcie2.0x4 眼圖測試 物理層致性測試集成電路的發(fā)明是人類歷史上的大創(chuàng)舉,它大地推動了人類的現(xiàn)代文明進程,在天無時無刻不在影響著我們的生活。進入 21 世紀以來,集成電路的發(fā)展則更是狂飆猛進。天的大規(guī)模集成電路生產(chǎn)和制造工藝已經(jīng)達到 10 nm 量產(chǎn)水平,更高的集成度意味著同等體積下提供了更高的性能,當(dāng)然對業(yè)內(nèi)從業(yè)者來說遇到的挑戰(zhàn)和問題也就越來越嚴峻。
更新時間:2026-01-09
pcie2.0x8 眼圖測試 物理層一致性測試
pcie2.0x8 眼圖測試 物理層致性測試在個處理器系統(tǒng)中,般提供×16的pcie插槽,并使用petp0~15、petn0~15和perp0~15、pern0~15共64根信號線組成32對差分信號,其中16對petxx信號用于發(fā)送鏈路,另外16對perxx信號用于接收鏈路。除此之外pcie總線還使用了下列輔助信號。
更新時間:2026-01-09

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熱門儀器: 液相色譜儀 氣相色譜儀 原子熒光光譜儀 可見分光光度計 液質(zhì)聯(lián)用儀 壓力試驗機 酸度計(PH計) 離心機 高速離心機 冷凍離心機 生物顯微鏡 金相顯微鏡 標準物質(zhì) 生物試劑