其他產(chǎn)品及廠家

絕緣子鹽密度、灰密度測(cè)試儀
用于檢測(cè)電力線路中絕緣子的污穢附著情況,可一次測(cè)量絕緣子鹽密度和灰密度,簡(jiǎn)化了絕緣子污穢檢測(cè)的流程,非常適合巡檢現(xiàn)場(chǎng)和實(shí)驗(yàn)室使用。電力線路中絕緣子的污穢程度主要通過(guò)鹽密度(esdd)和灰密度的(nsdd)來(lái)表征,同時(shí)具備測(cè)量鹽密度和灰密度的功能。內(nèi)置了常用溶液體積、絕緣子型號(hào),方便用戶直接調(diào)用,絕緣子型號(hào)與表面積支持用戶自定義,增加數(shù)據(jù)保存功能,保存十萬(wàn)組測(cè)試數(shù)據(jù),本機(jī)查看數(shù)據(jù),支持u盤(pán)導(dǎo)出數(shù)據(jù),
更新時(shí)間:2026-01-13
合金鋼化驗(yàn)儀器,合金鋼成分分析儀
gq-hw2a電弧紅外碳硫分析儀: 主要技術(shù)指標(biāo):*測(cè)量范圍:碳(c)0.001%~10.000%(可擴(kuò)至99.999%) 硫(s)0.0005%~0.5000%(可擴(kuò)至99.999%) *分析時(shí)間:25~60s可調(diào),一般35s*分析誤差:碳優(yōu)于gb/223.69-1997標(biāo)準(zhǔn) 硫優(yōu)于gb/t223.68-1997標(biāo)準(zhǔn) *燃燒功率:小于2.5kva; *工作原理:電弧燃燒,紅外檢測(cè)
更新時(shí)間:2026-01-13
CD1941-7B0,電量傳感器BD-AI
cd1941-7b0 電流變送器 ceq超爾崎 電流變送器產(chǎn)品設(shè)計(jì)與開(kāi)發(fā),現(xiàn)貨 cd1941-7b0 交流電流變送器 ceq超爾崎 3位半傳感器專(zhuān)用數(shù)顯表工程應(yīng)用及實(shí)例,小梁
更新時(shí)間:2026-01-13
JUKI飛達(dá)校正儀貼片機(jī)飛達(dá)校正儀 氣動(dòng)飛達(dá)校正儀/SMT飛達(dá)顯示器
商品名稱(chēng):juki feeder校正儀商品品牌:鑫鴻基/xhj商品產(chǎn)地:深圳商品尺寸(mm):l500*w350*h500商品重量:約35kg適用機(jī)型:juki系列機(jī)型
更新時(shí)間:2026-01-13
HDMI2.1、SFP56、高速接口測(cè)試、SI信號(hào)完整性、PI電源完整性、眼圖、抖動(dòng)、誤碼率(BER)、串?dāng)_、阻抗匹配、S參數(shù)、去嵌技術(shù)、EMI電磁干擾、HDCP認(rèn)證、光模塊電接口測(cè)試、矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀
hyperlynx si-pro是阿儀網(wǎng)面向pcie 6.0、224gbps及更高速率設(shè)計(jì)的全集成、智能化測(cè)試平臺(tái)。系統(tǒng)深度融合了高帶寬實(shí)時(shí)采樣、協(xié)議交互感知、信道損傷模擬三大核心能力,提供從物理層眼圖/sndr分析、抖動(dòng)頻譜診斷到協(xié)議層fec效能驗(yàn)證的一站式解決方案。平臺(tái)獨(dú)有的“時(shí)間戳穿透”技術(shù),實(shí)現(xiàn)了協(xié)議事件與物理信號(hào)納秒級(jí)關(guān)聯(lián),是解決高速系統(tǒng)設(shè)計(jì)瓶頸的工具。
更新時(shí)間:2026-01-13
高頻測(cè)試、S參數(shù)、抖動(dòng)、BER(誤碼率)、高速接口選型、PCIe6.0、USB4、HDMI2.1、SFP56、DDR5、MIPI C-PHY、224G Ethernet、信號(hào)完整性、技術(shù)選型指南
面對(duì)上述高速接口的測(cè)試挑戰(zhàn),阿儀網(wǎng)推出的 高速接口綜合測(cè)試系統(tǒng)? 是一款高度集成化的認(rèn)證級(jí)測(cè)試平臺(tái)。該系統(tǒng)深度融合了矢量網(wǎng)絡(luò)分析(vna)、高性能誤碼率測(cè)試(bert)? 和協(xié)議分析功能,旨在為客戶提供從物理層s參數(shù)建模、發(fā)射端信號(hào)質(zhì)量分析到接收端容限驗(yàn)證的一站式解決方案
更新時(shí)間:2026-01-13
TDR阻抗測(cè)試、串?dāng)_、S參數(shù)、基礎(chǔ)測(cè)試、接口驗(yàn)證、PCIe6.0、USB4、HDMI2.1、SFP56、DDR5、MIPI C-PHY、224G Ethernet、、高速協(xié)議
阿儀網(wǎng) 高速接口綜合測(cè)試系統(tǒng)? 是一款面向pcie, usb, 以太網(wǎng), mipi等主流高速接口的一站式驗(yàn)證平臺(tái)。該系統(tǒng)深度融合了高性能矢量網(wǎng)絡(luò)分析(vna)、高帶寬采樣示波器? 及協(xié)議分析儀? 功能,提供從物理層tdr阻抗、s參數(shù)? 到協(xié)議一致性? 的全套測(cè)試能力,幫助研發(fā)與質(zhì)檢團(tuán)隊(duì)快速完成產(chǎn)品性能評(píng)估與故障定位
更新時(shí)間:2026-01-13
泰克tektronix 以太網(wǎng)一致性測(cè)試夾具
泰克tektronix 以太網(wǎng)一致性測(cè)試夾具 泰克tektronix 以太網(wǎng)一致性測(cè)試夾具,硬件測(cè)試,ddr測(cè)試,時(shí)序測(cè)試,紋波測(cè)試,抖動(dòng)測(cè)試
更新時(shí)間:2026-01-13
淼森波信號(hào)引導(dǎo)器、自研技術(shù)、USB2.0 Host測(cè)試必備款、USB2.0測(cè)試?yán)?、淼森波自研設(shè)備、信號(hào)引導(dǎo)器
我們不僅提供這款蘊(yùn)含核心自研技術(shù)的硬件,更提供其完整的s參數(shù)校準(zhǔn)文件,并使其與我們的自動(dòng)化測(cè)試軟件無(wú)縫對(duì)接。軟件可自動(dòng)加載校準(zhǔn)數(shù)據(jù),執(zhí)行“去嵌入”處理,呈現(xiàn)最真實(shí)的host發(fā)射機(jī)性能。本方案旨在為研發(fā)、認(rèn)證與生產(chǎn)環(huán)節(jié)建立一個(gè)從“信號(hào)接入”到“報(bào)告生成”都具備最高可信度與可重復(fù)性的“黃準(zhǔn)”測(cè)試流水線,是確保產(chǎn)品性能達(dá)標(biāo)、快速通過(guò)認(rèn)證的戰(zhàn)略性投資。
更新時(shí)間:2026-01-13
USB2.0 眼圖測(cè)試模板、抖動(dòng)校準(zhǔn)、時(shí)序校準(zhǔn)、USB2.0 信號(hào)完整性、眼圖模板合規(guī)性、高速接口抖動(dòng)時(shí)序優(yōu)化
ayi-usb2-at是阿儀網(wǎng)推出的高集成度自動(dòng)化測(cè)試平臺(tái),專(zhuān)為usb2.0眼圖模板、抖動(dòng)及時(shí)序的驗(yàn)證而設(shè)計(jì)。系統(tǒng)采用模塊化硬件與智能軟件,一鍵執(zhí)行全項(xiàng)合規(guī)測(cè)試,自動(dòng)分離抖動(dòng)成分,測(cè)量時(shí)序參數(shù),并生成符合usb-if格式的詳細(xì)診斷報(bào)告,極大提升認(rèn)證效率與問(wèn)題定位精度。
更新時(shí)間:2026-01-13
USB3.0 接收端、受壓眼圖校準(zhǔn)、眼高恢復(fù)、CTLE 均衡器校準(zhǔn)、損耗模擬、順企網(wǎng)校準(zhǔn)方案、USB-IF 受壓測(cè)試
uat-ec5000是業(yè)界針對(duì)usb3.0接收端受壓眼圖的智能校準(zhǔn)平臺(tái),融合動(dòng)態(tài)基線補(bǔ)償、本底抖動(dòng)剝離、眼圖傾斜校正三大專(zhuān)利技術(shù)。系統(tǒng)通過(guò)ai驅(qū)動(dòng)的高精度信號(hào)重構(gòu),在極端壓力下仍可保證眼高測(cè)量誤差<±1%,為汽車(chē)電子/工業(yè)級(jí)應(yīng)用提供可靠測(cè)試基準(zhǔn)。
更新時(shí)間:2026-01-13
USB3.0 測(cè)試儀器選型、眼高測(cè)試儀器、時(shí)序測(cè)試設(shè)備、5Gbps 高速接口儀器、示波器選型、USB-IF 認(rèn)證儀器配置
uat-8000是阿儀網(wǎng)推出的專(zhuān)業(yè)級(jí)usb3.0/3.1/3.2信號(hào)完整性測(cè)試平臺(tái)。系統(tǒng)集成了高性能示波器硬件與自動(dòng)化分析軟件,專(zhuān)為測(cè)量眼高、抖動(dòng)、時(shí)序等關(guān)鍵參數(shù)而優(yōu)化,提供從自動(dòng)化合規(guī)性測(cè)試到深度信號(hào)診斷的一站式解決方案,大幅提升研發(fā)驗(yàn)證與認(rèn)證測(cè)試效率。
更新時(shí)間:2026-01-13
以太網(wǎng)SerDes降速、1000M/2.5G/5.0G SerDes測(cè)試、電源完整性、PDN噪聲、驅(qū)動(dòng)器性能、SerDes故障排查、PDN優(yōu)化方案
系統(tǒng)深度融合了多通道高精度同步測(cè)量、電源-信號(hào)頻譜智能關(guān)聯(lián)分析與pdn阻抗在環(huán)測(cè)試三大功能。它能同步捕獲phy芯片供電引腳上的真實(shí)噪聲與發(fā)送信號(hào)的眼圖/抖動(dòng),并通過(guò)算法自動(dòng)關(guān)聯(lián)兩者的頻譜特征,一鍵生成因果分析報(bào)告。平臺(tái)還支持在不停機(jī)情況下評(píng)估去耦優(yōu)化效果,是快速因pdn問(wèn)題導(dǎo)致的發(fā)送質(zhì)量差、鏈路降速等疑難雜癥的工具。
更新時(shí)間:2026-01-13
PCIe6.0、SI信號(hào)完整性、眼圖、抖動(dòng)、誤碼率(BER)、PAM4調(diào)制、CTLE均衡、DFE均衡、FEC糾錯(cuò)、S參數(shù)、TDR阻抗、串?dāng)_、去嵌技術(shù)、EMI電磁干擾、PCI-SIG規(guī)范、AI測(cè)試自動(dòng)化
面對(duì)2026年以pcie 6.0為首的高速測(cè)試挑戰(zhàn),阿儀網(wǎng)推出 hyperlink pcie6-si pro一體化測(cè)試系統(tǒng)。本系統(tǒng)深度融合了高帶寬示波器、精密誤碼儀、矢量網(wǎng)絡(luò)分析模塊及自動(dòng)化協(xié)議分析軟件,提供從物理層s參數(shù)建模、pam4眼圖/sndr分析、接收機(jī)壓力容限測(cè)試到協(xié)議一致性驗(yàn)證的全套解決方案
更新時(shí)間:2026-01-13
LPDDR5 存儲(chǔ)器芯片測(cè)試,LPDDR5 眼圖測(cè)試,LPDDR5 時(shí)序抖動(dòng)測(cè)試,JEDEC JESD209-5 合規(guī)測(cè)試,高速存儲(chǔ)器信號(hào)完整性測(cè)試
ats-msi 4000是阿儀網(wǎng)針對(duì)lpddr4及高速存儲(chǔ)器芯片推出的專(zhuān)業(yè)級(jí)信號(hào)完整性測(cè)試平臺(tái)。系統(tǒng)深度融合高精度眼圖分析、皮秒級(jí)時(shí)序測(cè)量與深度抖動(dòng)分解功能,提供從研發(fā)調(diào)試、預(yù)合規(guī)驗(yàn)證到失效分析的完整解決方案。其應(yīng)對(duì)低電壓、高速度的優(yōu)化設(shè)計(jì),特別適合移動(dòng)設(shè)備、汽車(chē)電子等領(lǐng)域?qū)Υ鎯?chǔ)器接口的嚴(yán)苛驗(yàn)證需求。
更新時(shí)間:2026-01-12
LPDDR4替代驗(yàn)證系統(tǒng) LPDVT-4000
lpdvt-4000是阿儀網(wǎng)專(zhuān)為lpddr4國(guó)產(chǎn)化替代設(shè)計(jì)的性能驗(yàn)證平臺(tái),支持4266mbps高速測(cè)試,提供從基礎(chǔ)功能到可靠性的全流程驗(yàn)證方案,重點(diǎn)解決低電壓、高速度帶來(lái)的測(cè)試挑戰(zhàn)。
更新時(shí)間:2026-01-12
解決MIPI屏黑屏問(wèn)題 MIPI調(diào)試過(guò)程 MIPI接口屏閃屏的測(cè)試 分析與解決方法
解決mipi屏黑屏問(wèn)題 mipi調(diào)試過(guò)程 mipi接口屏閃屏的測(cè)試 分析與解決方法依據(jù)ccir編碼表,sav和evav之間的保護(hù)數(shù)據(jù)是被編碼過(guò)的,使用這種方法,編碼器可以糾正1-bit錯(cuò)誤,可以檢查2-bit的錯(cuò)誤。該特征只是在csi的ccir編碼中,僅僅是奇偶交錯(cuò)模式中支持。
更新時(shí)間:2026-01-12
分析與解決方法 MIPI C-PHY D-PHY 眼圖測(cè)試
分析與解決方法 mipi c-phy d-phy 眼圖測(cè)試當(dāng)幀結(jié)束或者是個(gè)在rxfifo中的完整的幀數(shù)據(jù)被全部讀出時(shí),eof中斷就產(chǎn)生了,eof并不在csi的prp模式中使用。該中斷是用在ccir奇偶域交錯(cuò)的模式下使用,該中斷當(dāng)field 1 和field 2交錯(cuò)的時(shí)候產(chǎn)生。f1_int和f2_int會(huì)產(chǎn)生
更新時(shí)間:2026-01-12
解決MIPI屏黑屏問(wèn)題 MIPI調(diào)試過(guò)程 MIPI接口屏閃屏的測(cè)試
解決mipi屏黑屏問(wèn)題 mipi調(diào)試過(guò)程 mipi接口屏閃屏的測(cè)試bayer數(shù)據(jù)是個(gè)從圖像傳感器獲得典型的行數(shù)據(jù)。該數(shù)據(jù)寬度定要通過(guò)軟件轉(zhuǎn)化為rgb空間或者是yuv空間的數(shù)據(jù)格式。pack_dir bit設(shè)置為0,表示系統(tǒng)是小端,不是大端系統(tǒng)。使用p0,p1,p2,p3存放了打包了的數(shù)據(jù)內(nèi)容,p0是個(gè)data,依次,p3是個(gè)data.
更新時(shí)間:2026-01-12
MIPI CLK眼圖 DATA眼圖測(cè)試與分析 解決MIPI屏黑屏問(wèn)題
mipi clk眼圖 data眼圖測(cè)試與分析 解決mipi屏黑屏問(wèn)題mx27提供了個(gè)非常業(yè)的攝像頭csi接口,可以配置相關(guān)的口進(jìn)行接口匹配。我們的攝像頭是ov9660,輸出設(shè)定為yuv模式,因此,csi獲取的數(shù)據(jù)也是yuv格式的數(shù)據(jù),因此還需要通過(guò)軟件,將yuv的格式轉(zhuǎn)化為rgb565、rgb656、rgb888格式放到lcdc對(duì)應(yīng)的memory進(jìn)行顯示輸出。
更新時(shí)間:2026-01-12
MIPI C-PHY D-PHY 眼圖測(cè)試 MIPI屏 初始化指令問(wèn)題
mipi c-phy d-phy 眼圖測(cè)試 mipi屏 初始化指令問(wèn)題像素可以放映到你的抓圖上面的大小,該像素就是說(shuō)明你的cmos或者是ccd感光元件的像素點(diǎn)多少,可以想象在相同的面積上,數(shù)量越多,感光元件肯定要越小,感光元件小,那么圖像的質(zhì)量其實(shí)會(huì)變差,這個(gè)當(dāng)然可以理解,但是從大的方面來(lái)說(shuō),只要鏡頭好,光源充足,那么效果也會(huì)變好,這樣畫(huà)面就比像素低的更加的細(xì)膩,所以高像素的好處就在這里。
更新時(shí)間:2026-01-12
MIPI眼圖 數(shù)據(jù) CLK眼圖 DATA眼圖測(cè)試與分析 解決MIPI屏黑屏問(wèn)題 MIPI調(diào)試過(guò)程
mipi眼圖 數(shù)據(jù) clk眼圖 data眼圖測(cè)試與分析 解決mipi屏黑屏問(wèn)題 mipi調(diào)試過(guò)程mx27提供了個(gè)非常業(yè)的攝像頭csi接口,可以配置相關(guān)的口進(jìn)行接口匹配。
更新時(shí)間:2026-01-12
MIPI傳輸過(guò)程中的信號(hào)質(zhì)量問(wèn)題
mipi傳輸過(guò)程中的信號(hào)質(zhì)量問(wèn)題mipi是2003年由arm,nokia,st,it等公司成立的個(gè)聯(lián)盟,旨在把手機(jī)內(nèi)部的接口如存儲(chǔ)接口,顯示接口,射頻/基帶接口等標(biāo)準(zhǔn)化,減少兼容性問(wèn)題并簡(jiǎn)化設(shè)計(jì)。
更新時(shí)間:2026-01-12
MIPI接口屏閃屏的分析及解決方法 眼圖測(cè)試
mipi接口屏閃屏的分析及解決方法 眼圖測(cè)試基于示波器的當(dāng)抖動(dòng)測(cè)量工具在條通道上只提供個(gè)眼圖。在通用測(cè)量中,這些工具只有6-8個(gè)測(cè)量項(xiàng)目。dpojet全面支持所有通道,包括同時(shí)測(cè)量每條通道的眼圖。
更新時(shí)間:2026-01-12
MIPI接口屏閃屏的分析及解決方法 眼圖測(cè)試 MIPI傳輸過(guò)程中的信號(hào)質(zhì)量問(wèn)題 MIPI驅(qū)動(dòng)問(wèn)題 重起問(wèn)題
mipi接口屏閃屏的分析及解決方法 眼圖測(cè)試 mipi傳輸過(guò)程中的信號(hào)質(zhì)量問(wèn)題 mipi驅(qū)動(dòng)問(wèn)題 重起問(wèn)題
更新時(shí)間:2026-01-12
硬件工程師調(diào)試MIPI屏經(jīng)驗(yàn) MIPI 接口的sensor問(wèn)題 MIPI接口的DSI的驅(qū)動(dòng)問(wèn)題
硬件工程師調(diào)試mipi屏經(jīng)驗(yàn) mipi 接口的sensor問(wèn)題 mipi接口的dsi的驅(qū)動(dòng)問(wèn)題
更新時(shí)間:2026-01-12
MIPI LCD接口 MIPI主板 MIPI故障分析與解決 MIPI調(diào)試經(jīng)驗(yàn) MIPI硬件開(kāi)發(fā) MIPI驅(qū)動(dòng)
mipi lcd接口 mipi主板 mipi故障分析與解決 mipi調(diào)試經(jīng)驗(yàn) mipi硬件開(kāi)發(fā) mipi驅(qū)動(dòng)
更新時(shí)間:2026-01-12
MIPI調(diào)試經(jīng)驗(yàn) MIPI硬件開(kāi)發(fā) MIPI驅(qū)動(dòng) 硬件工程師調(diào)試MIPI屏經(jīng)驗(yàn)
mipi調(diào)試經(jīng)驗(yàn) mipi硬件開(kāi)發(fā) mipi驅(qū)動(dòng) 硬件工程師調(diào)試mipi屏經(jīng)驗(yàn)
更新時(shí)間:2026-01-12
MIPI調(diào)試經(jīng)驗(yàn) MIPI硬件開(kāi)發(fā) MIPI驅(qū)動(dòng) 硬件工程師調(diào)試MIPI屏經(jīng)驗(yàn) MIPI 接口的sensor問(wèn)題
mipi調(diào)試經(jīng)驗(yàn) mipi硬件開(kāi)發(fā) mipi驅(qū)動(dòng) 硬件工程師調(diào)試mipi屏經(jīng)驗(yàn) mipi 接口的sensor問(wèn)題
更新時(shí)間:2026-01-12
MIPI攝像頭 MIPI眼圖測(cè)試 MIPI LCD接口 MIPI主板 MIPI故障分析與解決
mipi攝像頭 mipi眼圖測(cè)試 mipi lcd接口 mipi主板 mipi故障分析與解決從軟件層面,再回顧下數(shù)據(jù)格式,加深在數(shù)據(jù)線上有3 種可能的操作模式:escape mode, high-speed (burst) mode and control mode,下面是從停止?fàn)顟B(tài)進(jìn)入相應(yīng)模式需要的時(shí)序:
更新時(shí)間:2026-01-12
過(guò)濾器完整性測(cè)試儀
過(guò)濾器完整性測(cè)試儀提供多種測(cè)試環(huán)境與測(cè)試方式,可以對(duì)親水性膜、疏水性膜、對(duì)稱(chēng)性膜,非對(duì)稱(chēng)性膜等多種微孔濾膜、濾芯以及過(guò)濾器的氣密性、完整性進(jìn)行測(cè)試,同時(shí)系統(tǒng)具備歷史數(shù)據(jù)記錄和打印的功能,并且可以按照要求提供上位機(jī)軟件。
更新時(shí)間:2026-01-12
自動(dòng)過(guò)濾器完整性測(cè)試儀
自動(dòng)過(guò)濾器完整性測(cè)試儀提供多種測(cè)試環(huán)境與測(cè)試方式,可以對(duì)親水性膜、疏水性膜、對(duì)稱(chēng)性膜,非對(duì)稱(chēng)性膜等多種微孔濾膜、濾芯以及過(guò)濾器的氣密性、完整性進(jìn)行測(cè)試,同時(shí)系統(tǒng)具備歷史數(shù)據(jù)記錄和打印的功能,并且可以按照要求提供上位機(jī)軟件。
更新時(shí)間:2026-01-12
全自動(dòng)過(guò)濾器完整性測(cè)試儀
全自動(dòng)過(guò)濾器完整性測(cè)試儀提供多種測(cè)試環(huán)境與測(cè)試方式,可以對(duì)親水性膜、疏水性膜、對(duì)稱(chēng)性膜,非對(duì)稱(chēng)性膜等多種微孔濾膜、濾芯以及過(guò)濾器的氣密性、完整性進(jìn)行測(cè)試,同時(shí)系統(tǒng)具備歷史數(shù)據(jù)記錄和打印的功能,并且可以按照要求提供上位機(jī)軟件。
更新時(shí)間:2026-01-12
便攜式過(guò)濾器完整性測(cè)試儀
便攜式過(guò)濾器完整性測(cè)試儀提供多種測(cè)試環(huán)境與測(cè)試方式,可以對(duì)親水性膜、疏水性膜、對(duì)稱(chēng)性膜,非對(duì)稱(chēng)性膜等多種微孔濾膜、濾芯以及過(guò)濾器的氣密性、完整性進(jìn)行測(cè)試,同時(shí)系統(tǒng)具備歷史數(shù)據(jù)記錄和打印的功能,并且可以按照要求提供上位機(jī)軟件。
更新時(shí)間:2026-01-12
濾芯完整性測(cè)試儀
濾芯完整性測(cè)試儀提供多種測(cè)試環(huán)境與測(cè)試方式,可以對(duì)親水性膜、疏水性膜、對(duì)稱(chēng)性膜,非對(duì)稱(chēng)性膜等多種微孔濾膜、濾芯以及過(guò)濾器的氣密性、完整性進(jìn)行測(cè)試,同時(shí)系統(tǒng)具備歷史數(shù)據(jù)記錄和打印的功能,并且可以按照要求提供上位機(jī)軟件。
更新時(shí)間:2026-01-12
美國(guó)Stangenes電流互感器2-1.0W
magnelab電流互感器(ct)提供準(zhǔn)確,無(wú)損(非接觸)的單或重復(fù)單或雙的測(cè)量 脈沖或連續(xù)波。
更新時(shí)間:2026-01-12
美國(guó)FCC電流探頭
低頻脈沖注入型號(hào)為 f-120-1, f-120-4, f-120-4a, f-120-6 和 f-120-6a 的注入探頭可用于脈沖注入源及敏感度監(jiān)測(cè)探頭,這些探頭能感應(yīng)耦合上升時(shí)間為 5ns 及半個(gè)脈沖寬度為 100μs 的瞬態(tài)信號(hào),當(dāng)用于監(jiān)測(cè)探頭時(shí)可用頻率范圍:10 khz to 200 mhz,轉(zhuǎn)移阻抗+20 db k2 從 200 khz 到150 mhz。
更新時(shí)間:2026-01-12
美國(guó)FCC電流鉗
特別高效的電流鉗(耦合系數(shù)小于7db),產(chǎn)生10v電平僅需20瓦功放,比傳統(tǒng)電流鉗可節(jié)省4-16倍的放大器功率,內(nèi)徑40mm,完全符合iec61000-4-6(gb/t 17626.6)的要求。
更新時(shí)間:2026-01-12
英國(guó)PEM 低頻羅氏線圈LFR
pem 低頻羅氏線圈-lfr系列是理想的電低頻流測(cè)試產(chǎn)品。且具有尺寸小巧、低相位誤差,超寬的頻帶范圍,使其可以測(cè)量被測(cè)信號(hào)的400次諧波(@45/65hz)。 低頻羅氏線圈--lfr對(duì)電流幅度的響應(yīng)曲線,有著高的線性度。配備有10:1的電流開(kāi)關(guān)檔,使其有著更寬的動(dòng)態(tài)測(cè)試范圍.
更新時(shí)間:2026-01-12
英國(guó)PEM交流電流探頭RCTi系列
rcti是工業(yè)級(jí)專(zhuān)用永久安裝的交流電流探頭。傳感器線圈纖細(xì)、輕巧、柔性。從感應(yīng)線圈輸出實(shí)時(shí)的與測(cè)量電流相對(duì)應(yīng)的電壓。
更新時(shí)間:2026-01-12
英國(guó)PEM直流電流探頭DCflex
dcflex系列電流探頭在功率電子測(cè)量中經(jīng)濟(jì)實(shí)用,使用簡(jiǎn)單,性?xún)r(jià)比非常高。直流柔性探頭結(jié)構(gòu):纖細(xì)、柔軟的感應(yīng)套環(huán),讓您輕而易舉地與實(shí)際測(cè)量對(duì)象相連接。
更新時(shí)間:2026-01-12
日本強(qiáng)力Kanetec高斯計(jì)TM-801EXP
日本強(qiáng)力kanetec高斯計(jì)tm-801exp產(chǎn)品說(shuō)明:tm-701的容易使用性能沒(méi)有改變,但是實(shí)現(xiàn)了性能的大幅度提高!輕便型的新行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)測(cè)量器
更新時(shí)間:2026-01-12
LSCG數(shù)顯PPM可燃?xì)怏w檢測(cè)儀美國(guó)CPS原裝進(jìn)口欣銳儀器代理測(cè)爆儀
lscg leak-seeker提高了可燃?xì)怏w檢漏儀的標(biāo)準(zhǔn),使其成為暖通空調(diào)人員定位和查明泄漏的工具。lscg幫助您確保沒(méi)有危險(xiǎn)的泄漏,因此您可以保持。先可燃?xì)怏w泄漏檢測(cè)儀大型背光lcd顯示屏可獲得讀
更新時(shí)間:2026-01-12
OTC5609C氣瓶泄漏測(cè)試儀
美國(guó)otc5609c氣瓶泄漏測(cè)試儀
更新時(shí)間:2026-01-12
實(shí)驗(yàn)裝置
ssgh-1型牛頓環(huán)實(shí)驗(yàn)裝置實(shí)驗(yàn)內(nèi)容:1、觀測(cè)牛頓環(huán)干涉現(xiàn)象2、用牛頓環(huán)測(cè)量平凸透鏡曲率半徑基本配置及參數(shù):編號(hào)名稱(chēng)規(guī)格件數(shù)1鈉燈低壓鈉燈,功率20w1套2低壓鈉燈電源220v,50hz1套3牛頓環(huán)牛頓環(huán)平凸透鏡
更新時(shí)間:2026-01-12
電子引伸計(jì)
yyu-25/100電子引伸計(jì)引伸計(jì)結(jié)構(gòu)及工作原理 :應(yīng)變片、變形傳遞桿、彈性元件、限位標(biāo)距桿、刀刃和夾緊彈簧等。測(cè)量變形時(shí), 將引伸計(jì)裝卡于試件上, 刀刃與試件接觸而感受兩
更新時(shí)間:2026-01-12
顯微鏡
iia(b)型連續(xù)變倍體視顯微鏡是一種三目觀察儀器,具有較長(zhǎng)的工作距離,寬闊的視野,較好的成像質(zhì)量,以及7x-180x連續(xù)改變放大倍率等特點(diǎn)。操作簡(jiǎn)單,使用方便,可供電子工業(yè)、臨床手術(shù)、巖礦分析
更新時(shí)間:2026-01-12
顯微鏡
ia(b)型連續(xù)變倍體視顯微鏡是一種雙目觀察儀器,具有較長(zhǎng)的工作距離,寬闊的視野,較好的成像質(zhì)量,以及7x-225x連續(xù)改變放大倍率等特點(diǎn)。操作簡(jiǎn)單,使用方便,可供電子工業(yè)、臨床手術(shù)、巖礦分析、
更新時(shí)間:2026-01-12
測(cè)試儀
德國(guó)美翠mi2127精密接地電阻測(cè)試儀/土壤電阻率儀(二、三、四線法測(cè)量接地電阻和土壤電阻率) 采用傳統(tǒng)的打地樁方式來(lái)測(cè)量接地電阻,可用二、三、四線法,可測(cè)量
更新時(shí)間:2026-01-12
微壓計(jì)
axd610、axd620微壓計(jì)(美國(guó)alnor)儀器介紹:axd610和620微壓計(jì)使您在hvac的壓力測(cè)試更加簡(jiǎn)單。這些結(jié)實(shí)耐用的儀器可以使用皮托管測(cè)量風(fēng)管內(nèi)風(fēng)速。axd610手持式數(shù)
更新時(shí)間:2026-01-12

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