早期,x熒光鍍層測(cè)厚儀基本被外廠家(德費(fèi)希爾,日本精工,牛津等)壟斷,用戶可以選擇的廠家比較少。天瑞儀器92年開(kāi)始做光譜儀,是家專業(yè)生產(chǎn)光譜儀的廠家,在x熒光鍍層檢測(cè)方面,打破外的技術(shù)壟斷。天瑞thick800a內(nèi)置了天瑞研發(fā)的信噪比增強(qiáng)器與數(shù)字多道分析器,在測(cè)試精度可以與進(jìn)口設(shè)備pk過(guò)程中不落下風(fēng)。超低的檢出限使儀器的性能在與進(jìn)口設(shè)備(費(fèi)希爾,精工,牛津等)pk過(guò)程中不落下風(fēng)。
更新時(shí)間:2026-01-13