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JSM-IT200 InTouchScope日本JEOL掃描電子顯微鏡

日本jeol掃描電子顯微鏡 jsm-it200 intouchscope ，是一款更簡潔、更易于使用且性價(jià)比高的掃描電子顯微鏡。使用初學(xué)者易懂的樣品交換導(dǎo)航，可以輕松地從樣品臺搜索視野并開始觀察sem圖像。zeromag能像光鏡一樣直觀地搜索視野，live analysis*2可以不用特意分析就能實(shí)時(shí)獲取元素分析結(jié)果，smile viewtm lab能綜合編輯觀察和分析報(bào)告等。

更新時(shí)間:2026-01-09

該公司產(chǎn)品分類：深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司

JSM-IT500HR日本JEOL掃描電子顯微鏡

日本jeol掃描電子顯微鏡 jsm-it500hr，采用新開發(fā)的高亮度電子槍和透鏡系統(tǒng)，可以更迅速便捷地提供令人驚嘆的高分辨率圖像、高靈敏度和高空間分辨率；從設(shè)定視野到生成報(bào)告，利用完全集成的軟件大大地提高了作業(yè)速度。

更新時(shí)間:2026-01-09

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JSM-7900F日本JEOL熱場發(fā)射掃描電子顯微鏡

日本jeol熱場發(fā)射掃描電子顯微鏡 jsm-7900f

更新時(shí)間:2026-01-09

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IB-09060CIS日本JEOL低溫冷凍離子切片儀

日本jeol低溫冷凍離子切片儀ib-09060cis，冷卻保持時(shí)間長，有效地抑制了熱損傷。易受熱損傷的樣品，也能方便地制作出薄膜樣品和截面樣品。

更新時(shí)間:2026-01-09

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EM-09100IS日本JEOL 離子切片儀

日本jeol 離子切片儀 em-09100is ，用于tem 、stem 、 sem 、 epma 和 auger樣品制備的創(chuàng)新方法離子切片儀制備薄膜樣品比傳統(tǒng)制備工具快速、簡單。低能量、低角度（0°到6°）的氬離子束通過遮光帶照射樣品，大大降低了離子束對樣品的輻照損壞。即使是柔軟的材料,制備的薄膜質(zhì)量也好，對不同成份的樣品甚至含有多孔合成物也都能夠有效制備。

更新時(shí)間:2026-01-09

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IB-19530CP日本JEOL截面樣品拋光儀

日本jeol截面樣品拋光儀ib-19530cp，采用多用途樣品臺，通過交換各種功能性樣品座實(shí)現(xiàn)了功能的多樣化。根據(jù)需要可以選擇不同的功能性樣品座，不僅能截面刻蝕，還可以進(jìn)行平面刻蝕、離子束濺射鍍膜等。

更新時(shí)間:2026-01-09

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IB-19530CP日本JEOL截面樣品制備裝置

日本jeol截面樣品制備裝置ib-19530cp，采用多用途樣品臺，通過交換各種功能性樣品座實(shí)現(xiàn)了功能的多樣化。根據(jù)需要可以選擇不同的功能性樣品座，不僅能截面刻蝕，還可以進(jìn)行平面刻蝕、離子束濺射鍍膜等。

更新時(shí)間:2026-01-09

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IB-19520CCP日本JEOL 截面樣品拋光儀

日本jeol 截面樣品拋光儀 ib-19520ccp，在加工過程中利用液氮冷卻，能減輕離子束對樣品造成的熱損傷。冷卻持續(xù)時(shí)間長、液氮消耗少的構(gòu)造設(shè)計(jì)。在裝有液氮的情況下，也能將樣品快速冷卻、恢復(fù)到室溫，并且可以拆卸。配有傳送機(jī)構(gòu)，在隔離空氣的環(huán)境下能完成從加工到觀察的全過程。

更新時(shí)間:2026-01-09

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日本JEOL 軟X射線分析譜儀

日本jeol 軟x射線分析譜儀，通過組合新開發(fā)的衍射光柵和高靈敏度ｘ射線ccd相機(jī)，實(shí)現(xiàn)了高的能量分辨率。和eds一樣可以并行檢測，并且能以0.3ev(費(fèi)米邊處al-l基準(zhǔn))的高能量分辨率進(jìn)行分析，超過了wds的能量分辨率。

更新時(shí)間:2026-01-09

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JXA-iHP100日本JEOL 電子探針顯微分析儀

日本jeol 電子探針顯微分析儀 jxa-ihp100，可以安裝通用性強(qiáng)、使用方便的能譜儀x射線探測器，組合使用wds和eds，能提供無縫、舒適的分析環(huán)境。

更新時(shí)間:2026-01-09

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JIB-4000日本JEOL 聚焦離子束加工觀察系統(tǒng)

日本jeol 聚焦離子束加工觀察系統(tǒng) jib-4000，配置了高性能的離子鏡筒(單束fib裝置)。被加速了的鎵離子束經(jīng)聚焦照射樣品后，就能對樣品表面進(jìn)行sim觀察、研磨，沉積碳和鎢等材料。還可以為tem成像制備薄膜樣品，為觀察樣品內(nèi)部制備截面樣品。通過與sem像比較，sim像能清楚地顯示出歸因于晶體取向不同的電子通道襯度差異，這些都非常適合于評估多層鍍膜的截面及金屬結(jié)構(gòu)。

更新時(shí)間:2026-01-09

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JIB-4700F日本JEOL 雙束加工觀察系統(tǒng)

日本jeol 雙束加工觀察系統(tǒng) jib-4700f，該設(shè)備的sem鏡筒中采用了超級混合圓錐形物鏡、gb模式和in-lens檢測器系統(tǒng)，在1kv低加速電壓下,實(shí)現(xiàn)了1.6nm的保證分辨率,與最大能獲得300na探針電流的浸沒式肖特基電子槍組合，可以進(jìn)行高分辨率觀察和高速分析。

更新時(shí)間:2026-01-09

該公司產(chǎn)品分類：深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司

JSX-1000S日本JEOL 能量色散型X射線熒光分析儀

日本jeol 能量色散型x射線熒光分析儀 jsx-1000s，采用觸控屏操作、提供更加簡便迅速的元素分析。具備常規(guī)定性、定量分析（fp法・檢量線法）、rohs元素篩選功能等。利用豐富的硬件/軟件選配件、還能進(jìn)行更廣泛的分析。

更新時(shí)間:2026-01-09

該公司產(chǎn)品分類：深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司

JSM-IT800日本電子熱場發(fā)射掃描電子顯微鏡

日本電子熱場發(fā)射掃描電子顯微鏡適用于納米材料、化學(xué)、新材料、半導(dǎo)體器件的觀察和分析。

更新時(shí)間:2026-01-08

該公司產(chǎn)品分類：惠州市華高儀器設(shè)備有限公司

JCM-7000日本電子掃描電子顯微鏡

日本電子掃描電子顯微鏡jcm-700強(qiáng)大的"zeromag"功能，讓您從光學(xué)顯微鏡的觀察方式，輕松的無縫接軌到掃描電鏡的影像觀察。"live analysis"則實(shí)現(xiàn)了sem影像觀察時(shí)實(shí)時(shí)的eds成份分析。

更新時(shí)間:2026-01-08

該公司產(chǎn)品分類：惠州市華高儀器設(shè)備有限公司

S600和伍水浸超聲掃描顯微鏡半導(dǎo)體缺陷檢測儀

超聲掃描顯微鏡（sat）是一種利用超聲波為傳播媒介的無損檢測成像設(shè)備，主要利用高頻超聲波，對各類半導(dǎo)體器件、材料進(jìn)行檢測，能夠檢測出樣品內(nèi)部的氣孔、裂紋、夾雜和分層等缺陷，并以圖形的方式直觀展示。在掃描過程中，不會對樣品造成損傷，不會影響樣品性能，可有效滿足新能源、半導(dǎo)體、電力電子、熱管理材料、金剛石復(fù)合材料、碳纖維復(fù)合材料等行業(yè)需求。

更新時(shí)間:2026-01-08

該公司產(chǎn)品分類：惠州市華高儀器設(shè)備有限公司

SEM掃描電鏡，臺式掃描電子顯微鏡

sem掃描電鏡，臺式掃描電子顯微鏡在電子學(xué)研究中，掃描電鏡主要可以用來觀測及分析半導(dǎo)體、數(shù)據(jù)存儲材料、太陽能電池、led、元器件、pcb板及mems器件等的形態(tài)或缺陷。

更新時(shí)間:2026-01-08

該公司產(chǎn)品分類：上海雋思實(shí)驗(yàn)儀器有限公司

SEM掃描電鏡，臺式掃描電子顯微鏡#2023已更新

sem掃描電鏡，臺式掃描電子顯微鏡在電子學(xué)研究中，掃描電鏡主要可以用來觀測及分析半導(dǎo)體、數(shù)據(jù)存儲材料、太陽能電池、led、元器件、pcb板及mems器件等的形態(tài)或缺陷。

更新時(shí)間:2026-01-08

該公司產(chǎn)品分類：上海雋思實(shí)驗(yàn)儀器有限公司

TM4000Ⅱ供應(yīng)蘇州日立TM4000Ⅱ掃描電鏡

日立tm4000ⅱ掃描電鏡獨(dú)特的低真空系統(tǒng)使得樣品不需任何處理即可快速進(jìn)行觀察。 tm4000ⅱ優(yōu)化提供5kv、10kv、15kv、20kv四種不同電壓下的觀察模式，每種模式下電流4檔可調(diào)，并配備4分割背散射探測器，可采集四個(gè)不同方向的圖像信息，對樣品進(jìn)行多種模式成像。具有全新的sem-map導(dǎo)航功能，同時(shí)，電鏡圖片可以報(bào)告形式導(dǎo)出。配備大型樣品倉，可容納大樣品直徑80mm，厚度50mm。

更新時(shí)間:2026-01-08

該公司產(chǎn)品分類：蘇州科帝斯懷特工業(yè)設(shè)備有限公司

FlexSEM1000 II供應(yīng)蘇州日立FlexSEM1000 II鎢燈絲掃描電鏡

flexsem1000 ii是日立新的落地式小型鎢燈絲掃描電鏡，具有體積小、操作簡單、性能強(qiáng)、擴(kuò)展功能豐富等特點(diǎn)。flexsem1000 ii配備了二次電子探測器和背散射電子探測器，可以觀察樣品的形貌和成分；同時(shí)具有低真空功能，可以直接觀察不導(dǎo)電樣品和含水樣品；配合新增的sem-map光鏡導(dǎo)航和5軸樣品臺可以快速、高效的完成觀察任務(wù)。

更新時(shí)間:2026-01-08

該公司產(chǎn)品分類：蘇州科帝斯懷特工業(yè)設(shè)備有限公司

TM4000Ⅱ供應(yīng)蘇州日立TM4000Ⅱ掃描電鏡

日立tm4000ⅱ掃描電鏡獨(dú)特的低真空系統(tǒng)使得樣品不需任何處理即可快速進(jìn)行觀察。 tm4000ⅱ優(yōu)化提供5kv、10kv、15kv、20kv四種不同電壓下的觀察模式，每種模式下電流4檔可調(diào)，并配備4分割背散射探測器，可采集四個(gè)不同方向的圖像信息，對樣品進(jìn)行多種模式成像。具有全新的sem-map導(dǎo)航功能，同時(shí)，電鏡圖片可以報(bào)告形式導(dǎo)出。配備大型樣品倉，可容納大樣品直徑80mm，厚度50mm。

更新時(shí)間:2026-01-08

該公司產(chǎn)品分類：蘇州佐藤精密儀器有限公司

FlexSEM1000 II供應(yīng)蘇州日立FlexSEM1000 II鎢燈絲掃描電鏡

flexsem1000 ii是日立新的落地式小型鎢燈絲掃描電鏡，具有體積小、操作簡單、性能強(qiáng)、擴(kuò)展功能豐富等特點(diǎn)。flexsem1000 ii配備了二次電子探測器和背散射電子探測器，可以觀察樣品的形貌和成分；同時(shí)具有低真空功能，可以直接觀察不導(dǎo)電樣品和含水樣品；配合新增的sem-map光鏡導(dǎo)航和5軸樣品臺可以快速、高效的完成觀察任務(wù)。

更新時(shí)間:2026-01-08

該公司產(chǎn)品分類：蘇州佐藤精密儀器有限公司

SU9000供應(yīng)日立SU9000新型超高分辨冷場發(fā)射掃描電鏡

日立2011年新推出了su9000超高分辨冷場發(fā)射掃描電鏡，達(dá)到掃描電鏡世界最高二次電子分辨率0.4nm和stem分辨率0.34nm。日立su9000采取了全新改進(jìn)的真空系統(tǒng)和電子光學(xué)系統(tǒng)，不僅分辨率性能明顯提升，而且作為一款冷場發(fā)射掃描電鏡甚至不需要傳統(tǒng)意義上的flashing操作，可以高效率的快速獲取樣品超高分辨掃描電鏡圖像。特點(diǎn)： 1. 新型

更新時(shí)間:2026-01-08

該公司產(chǎn)品分類：蘇州佐藤精密儀器有限公司

S-3400N供應(yīng)蘇州日立S-3400N掃描電子顯微鏡

s-3400n掃描電子顯微鏡 s-3400n具有最新開發(fā)的電子光學(xué)系統(tǒng)，強(qiáng)大的自動化功能，操作更簡易。特點(diǎn): 1. s-3400n具有強(qiáng)大的自動功能，包括自動燈絲飽和、4偏壓、自動槍對中、自動束流設(shè)定、自動合軸自動聚焦和消像散、自動亮度對比度等。 2. 在3kv低加速電壓時(shí)

更新時(shí)間:2026-01-08

該公司產(chǎn)品分類：蘇州佐藤精密儀器有限公司

S-3700N供應(yīng)蘇州日立S-3700N 多功能分析型可變壓掃描電鏡

s-3700n 多功能分析型可變壓掃描電鏡研究超大，超重，超高樣品的分析型掃描電鏡 ● 最大可載樣品直徑達(dá)300mm ●最大觀察區(qū)域直徑達(dá)203mm ● 在觀察110mm高樣品時(shí)可進(jìn)行能譜分析 ● 樣品室設(shè)置多種接口，可安裝eds、wds、ebsd和cl等多種分析用附件 ● 5軸優(yōu)中心馬達(dá)臺可以傾

更新時(shí)間:2026-01-08

該公司產(chǎn)品分類：蘇州佐藤精密儀器有限公司

TM4000Ⅱ供應(yīng)蘇州日立TM4000Ⅱ掃描電鏡

日立tm4000ⅱ掃描電鏡獨(dú)特的低真空系統(tǒng)使得樣品不需任何處理即可快速進(jìn)行觀察。 tm4000ⅱ優(yōu)化提供5kv、10kv、15kv、20kv四種不同電壓下的觀察模式，每種模式下電流4檔可調(diào)，并配備4分割背散射探測器，可采集四個(gè)不同方向的圖像信息，對樣品進(jìn)行多種模式成像。具有全新的sem-map導(dǎo)航功能，同時(shí)，電鏡圖片可以報(bào)告形式導(dǎo)出。配備大型樣品倉，可容納大樣品直徑80mm，厚度50mm。

更新時(shí)間:2026-01-08

該公司產(chǎn)品分類：蘇州科帝斯懷特工業(yè)設(shè)備有限公司吳江銷售中心

SEM5000國儀量子高分辨率場發(fā)射掃描電鏡

國儀量子場發(fā)射掃描電鏡sem5000，可實(shí)現(xiàn)低電壓高分辨成像，磁性樣品也可適用，豐富的接口，滿足多樣的需求，精心設(shè)計(jì)的人機(jī)交互方便操作，快速上手

更新時(shí)間:2026-01-07

該公司產(chǎn)品分類：國儀量子技術(shù) （合肥）股份有限公司

SEM3200國儀量子高分辨低真空鎢燈絲掃描電鏡

sem3200是一款高性能、應(yīng)用廣泛的通用型鎢燈絲掃描電子顯微鏡。擁有出色的成像質(zhì)量、可兼容低真空模式、在不同的視場范圍下均可得到高分辨率圖像。大景深，成像富有立體感。豐富的擴(kuò)展性，助您在顯微成像的中盡情探索。

更新時(shí)間:2026-01-07

該公司產(chǎn)品分類：國儀量子技術(shù) （合肥）股份有限公司

SEM5000X超高分辨場發(fā)射掃描電子顯微鏡

sem5000x是一款超高分辨率場發(fā)射掃描電子顯微鏡，其分辨率達(dá)到了突破性的0.6 nm@15 kv和1.0 nm@1 kv。高分辨物鏡設(shè)計(jì)、高壓隧道技術(shù)（supertunnel）以及鏡筒工藝升，實(shí)現(xiàn)了低電壓分辨率的進(jìn)一步提升。全新設(shè)計(jì)的樣品倉，擴(kuò)展接口增加至16個(gè)，快速換樣倉大支持8寸晶圓（大直徑208 mm），大擴(kuò)展應(yīng)用范圍。高掃描模式和自動功能增強(qiáng)，帶來了更強(qiáng)的性能和更好的體驗(yàn)。

更新時(shí)間:2026-01-07

該公司產(chǎn)品分類：國儀量子技術(shù) （合肥）股份有限公司

DB500聚焦離子束電子束雙束顯微鏡

db500擁有自主可控的場發(fā)射電子鏡筒和“承影”離子鏡筒，是一款優(yōu)雅全能的納米分析和制樣工具。高壓隧道技術(shù)（supertunnel）、低像差無漏磁物鏡設(shè)計(jì)，低電壓高分辨率成像，保證納米分析能力?！俺杏啊彪x子鏡筒采用液態(tài)鎵離子源，擁有高穩(wěn)定、高質(zhì)量的離子束流，保證納米加工能力。集成式的納米機(jī)械手、氣體注入器、電子物鏡防污染機(jī)構(gòu)，擁有24個(gè)擴(kuò)展口，配置全面，自主可控，擴(kuò)展性強(qiáng)，為您打造全能納米分析和加

更新時(shí)間:2026-01-07

該公司產(chǎn)品分類：國儀量子技術(shù) （合肥）股份有限公司

DM401/DM401 Pro/DM402 ProTOMLOV HDMI 顯微鏡 DM401/DM401 Pro/DM402 Pro 2K/4K 高清 1200X 放大 7 寸 IPS 屏雙 LED 光源自動對焦電子維修 PCB 焊接珠寶鑒定

tomlov hdmi電源產(chǎn)品顯微鏡將傳統(tǒng)顯微鏡升級為數(shù)字可視化系統(tǒng)，讓觀察更輕松、記錄更便捷。三款產(chǎn)品以不同配置滿足從入門到專業(yè)的各類需求，是電子愛好者、收藏家和專業(yè)維修人員的實(shí)用工具。

更新時(shí)間:2026-01-07

該公司產(chǎn)品分類：深圳奧德賽創(chuàng)精密儀器有限公司

JCM-6000系列掃描電子顯微鏡日本電子 JEOL

臺式掃描電鏡 jcm-6000 neoscope經(jīng)濟(jì)實(shí)惠，補(bǔ)充和發(fā)展了光學(xué)顯微鏡和傳統(tǒng)掃描電子顯微鏡。該neoscope像數(shù)碼相機(jī)一樣操作簡單，在輕松獲得大倍數(shù)圖像的同時(shí)，保持著高分辨率和大景深，具有掃描電子顯微鏡的強(qiáng)大電子光學(xué)性能。

更新時(shí)間:2026-01-05

該公司產(chǎn)品分類：東莞市協(xié)美電子有限公司

JSM-6010LA / JSM-6010LV臺式掃描電子顯微鏡

intouchscope觸控式電子顯微鏡jsm-6010la / jsm-6010lv是一款高效能、操作容易、高效率的電子顯微鏡。全新設(shè)計(jì)的intouchscope操作界面，即便是初次使用儀器的人員也能輕松上手。面對越來越多元化的操作環(huán)境需求，jsm-6010的操作設(shè)計(jì)，能讓您更輕松、有效率的使用儀器。

更新時(shí)間:2026-01-05

該公司產(chǎn)品分類：東莞市協(xié)美電子有限公司

JSM-6010LA掃描電子顯微鏡價(jià)格

掃描電子顯微鏡jsm-6010系列觸控式電子顯微鏡jsm-6010la / jsm-6010lv是一款高效能、操作容易、高效率的電子顯微鏡。全新設(shè)計(jì)的intouchscope操作界面，即便是初次使用儀器的人員也能輕松上手。

更新時(shí)間:2026-01-05

該公司產(chǎn)品分類：東莞市協(xié)美電子有限公司

掃描電子顯微鏡JSM-6510日本電子（JEOL）

sem掃描電子顯微鏡 jsm-6510系列jsm-6510是一款高性能低價(jià)格的掃描電子顯微鏡，?？砂从脩粢蠖ㄗ龅牟僮鹘涌诒阌谟脩糁庇^操作儀器。smile shot™軟件保證得到最佳電子光學(xué)參數(shù)。jsm-6510的lgs型大樣品臺和gs型普通樣品臺可分別裝6英寸直徑和32mm直徑的樣品。

更新時(shí)間:2026-01-05

該公司產(chǎn)品分類：東莞市協(xié)美電子有限公司

JCM-6000PLUSJCM-6000PLUS桌上型掃描電鏡

顯微鏡＋影像觀察＋成份分析＋尺規(guī)量測

更新時(shí)間:2026-01-05

該公司產(chǎn)品分類：東莞市協(xié)美電子有限公司

Phenom G6 pureFEI臺式掃描電鏡Phenom飛納標(biāo)準(zhǔn)版

第六代 phenom pure 是一款使用高亮度 ceb6 燈絲的高分辨臺式掃描電鏡。放大倍數(shù) 175,000 倍，用于觀察亞微米樣品的微觀結(jié)構(gòu)。pure 具有全自動操作、15 快速抽真空、不噴金觀看絕緣體、2-3 年更換燈絲等特點(diǎn)，適用于傳統(tǒng)大電鏡待測樣品的快速篩選，也適合于光學(xué)顯微鏡的分辨率無法滿足需求的客戶。

更新時(shí)間:2026-01-05