掃描電子顯微鏡(SEM)產(chǎn)品及廠家

和伍水浸超聲掃描顯微鏡半導體缺陷檢測儀
超聲掃描顯微鏡(sat)是一種利用超聲波為傳播媒介的無損檢測成像設備,主要利用高頻超聲波,對各類半導體器件、材料進行檢測,能夠檢測出樣品內部的氣孔、裂紋、夾雜和分層等缺陷,并以圖形的方式直觀展示。在掃描過程中,不會對樣品造成損傷,不會影響樣品性能,可有效滿足新能源、半導體、電力電子、熱管理材料、金剛石復合材料、碳纖維復合材料等行業(yè)需求。
更新時間:2026-01-07
SEM掃描電鏡,臺式掃描電子顯微鏡#2023已更新
sem掃描電鏡,臺式掃描電子顯微鏡在電子學研究中,掃描電鏡主要可以用來觀測及分析半導體、數(shù)據(jù)存儲材料、太陽能電池、led、元器件、pcb板及mems器件等的形態(tài)或缺陷 。
更新時間:2026-01-07
TOMLOV HDMI 顯微鏡 DM401/DM401 Pro/DM402 Pro 2K/4K 高清 1200X 放大 7 寸 IPS 屏 雙 LED 光源 自動對焦 電子維修 PCB 焊接珠寶鑒定
tomlov hdmi電源產(chǎn)品顯微鏡將傳統(tǒng)顯微鏡升級為數(shù)字可視化系統(tǒng),讓觀察更輕松、記錄更便捷。三款產(chǎn)品以不同配置滿足從入門到專業(yè)的各類需求,是電子愛好者、收藏家和專業(yè)維修人員的實用工具。
更新時間:2026-01-07
行業(yè)標準操作SH/T 0221液化石油氣密度或相對密度測定法(壓力密度計法)
行業(yè)標準操作sh/t 0221液化石油氣密度或相對密度測定法(壓力密度計法)
更新時間:2026-01-07
標準操作SH/T 0059潤滑油燕發(fā)損失的測定諾亞克法
標準操作sh/t 0059潤滑油燕發(fā)損失的測定諾亞克法
更新時間:2026-01-07
日本電子JEOL場發(fā)射掃描電鏡
jsm-it800shl 是日本電子株式會社(jeol) 2020 年新推出的場發(fā)射掃描電鏡,它秉承 jeol 熱場發(fā)射掃描電鏡 jsm-7900f 的大束流,高穩(wěn)定性的傳統(tǒng),同時將分辨率提高到新的限,全新設計的超混合型物鏡,高分辨率的獲得以及磁性樣品的觀察都可以同時完成,而且標配 jeol 新開發(fā)的 neo
更新時間:2026-01-07
德Neaspec真空太赫茲波段近場光學顯微鏡
德neaspec真空太赫茲波段近場光學顯微鏡hv-thz-neasnom,該套系統(tǒng)成功地繼承了德國neaspec公司thz-neasnom的設計優(yōu)勢,采用專利保護的雙光路設計,完全可以實現(xiàn)真空環(huán)境下太赫茲波段應用的樣品測量。hv-thz-neasnom在實現(xiàn)30nm高空間分辨率的同時,由于采用0.1-3thz波段的時域太赫茲光源(thz-tds),也可以實現(xiàn)近場太赫茲成像和圖譜的同時測量。
更新時間:2026-01-07
太赫茲近場光學顯微鏡
thz-neasnom太赫茲近場光學顯微鏡 -30nm光學信號空間分辨率
更新時間:2026-01-07
ZEISS 高分辨電子掃描顯微鏡
zeiss 高分辨電子掃描顯微鏡-evo 10,具備自動化工作流程的高清晰掃描電鏡
更新時間:2026-01-07
德國KSI  型 全自動晶圓超聲波缺陷檢測系統(tǒng)
德國ksi i-wafer型全自動晶圓超聲波缺陷檢測系統(tǒng),在ksi i-wafer的探測下,晶圓中的孔隙、分層或者雜質都能被發(fā)現(xiàn)。尺寸在450mm的多種晶圓也能進行檢測
更新時間:2026-01-07
KSI 型全自動晶錠分析檢測系統(tǒng)
ksi i-ingot型全自動晶錠分析檢測系統(tǒng),適用于對晶錠的無損檢測,有了它,晶錠內部的裂縫或雜質就能得到快速檢測,晶錠的尺寸可達450mm,檢測時間短,也不需要做其它設定。
更新時間:2026-01-07
KSI高分辨率表層缺陷超聲波掃描顯微鏡系統(tǒng)
ksi-nano型高分辨率表層缺陷超聲波掃描顯微鏡系統(tǒng)聲學顯微成像系統(tǒng)和光學顯微成像系統(tǒng)的完美結合
更新時間:2026-01-07
德國KSI  雙探頭超聲波掃描顯微鏡系統(tǒng)
ksi v-duo 雙探頭超聲波掃描顯微鏡系統(tǒng),同時使用2只換能器
更新時間:2026-01-07
德國ZEISS蔡司聚焦離子束掃描電鏡FIB/SEM
德國zeiss蔡司聚焦離子束掃描電鏡fib/sem crossbeam 350,crossbeam 550
更新時間:2026-01-07
日本JEOL掃描電子顯微鏡
日本jeol掃描電子顯微鏡 jsm-it200 intouchscope ,是一款更簡潔、更易于使用且性價比高的掃描電子顯微鏡。使用初學者易懂的樣品交換導航,可以輕松地從樣品臺搜索視野并開始觀察sem圖像。zeromag能像光鏡一樣直觀地搜索視野,live analysis*2可以不用特意分析就能實時獲取元素分析結果,smile viewtm lab能綜合編輯觀察和分析報告等。
更新時間:2026-01-07
日本JEOL掃描電子顯微鏡
日本jeol掃描電子顯微鏡 jsm-it500hr,采用新開發(fā)的高亮度電子槍和透鏡系統(tǒng),可以更迅速便捷地提供令人驚嘆的高分辨率圖像、高靈敏度和高空間分辨率;從設定視野到生成報告,利用完全集成的軟件大大地提高了作業(yè)速度。
更新時間:2026-01-07
日本JEOL熱場發(fā)射掃描電子顯微鏡
日本jeol熱場發(fā)射掃描電子顯微鏡 jsm-7900f
更新時間:2026-01-07
日本JEOL低溫冷凍離子切片儀
日本jeol低溫冷凍離子切片儀ib-09060cis,冷卻保持時間長,有效地抑制了熱損傷。易受熱損傷的樣品,也能方便地制作出薄膜樣品和截面樣品。
更新時間:2026-01-07
日本JEOL 離子切片儀
日本jeol 離子切片儀 em-09100is ,用于tem 、stem 、 sem 、 epma 和 auger樣品制備的創(chuàng)新方法 離子切片儀制備薄膜樣品比傳統(tǒng)制備工具快速、簡單。低能量、低角度(0°到6°)的氬離子束通過遮光帶照射樣品,大大降低了離子束對樣品的輻照損壞。即使是柔軟的材料,制備的薄膜質量也好,對不同成份的樣品甚至含有多孔合成物也都能夠有效制備。
更新時間:2026-01-07
日本JEOL截面樣品拋光儀
日本jeol截面樣品拋光儀ib-19530cp,采用多用途樣品臺,通過交換各種功能性樣品座實現(xiàn)了功能的多樣化。根據(jù)需要可以選擇不同的功能性樣品座,不僅能截面刻蝕,還可以進行平面刻蝕、離子束濺射鍍膜等。
更新時間:2026-01-07
日本JEOL截面樣品制備裝置
日本jeol截面樣品制備裝置ib-19530cp,采用多用途樣品臺,通過交換各種功能性樣品座實現(xiàn)了功能的多樣化。根據(jù)需要可以選擇不同的功能性樣品座,不僅能截面刻蝕,還可以進行平面刻蝕、離子束濺射鍍膜等。
更新時間:2026-01-07
日本JEOL 截面樣品拋光儀
日本jeol 截面樣品拋光儀 ib-19520ccp,在加工過程中利用液氮冷卻,能減輕離子束對樣品造成的熱損傷。冷卻持續(xù)時間長、液氮消耗少的構造設計。在裝有液氮的情況下,也能將樣品快速冷卻、恢復到室溫,并且可以拆卸。配有傳送機構,在隔離空氣的環(huán)境下能完成從加工到觀察的全過程。
更新時間:2026-01-07
日本JEOL 軟X射線分析譜儀
日本jeol 軟x射線分析譜儀,通過組合新開發(fā)的衍射光柵和高靈敏度x射線ccd相機,實現(xiàn)了高的能量分辨率。 和eds一樣可以并行檢測,并且能以0.3ev(費米邊處al-l基準)的高能量分辨率進行分析,超過了wds的能量分辨率。
更新時間:2026-01-07
日本JEOL 電子探針顯微分析儀
日本jeol 電子探針顯微分析儀 jxa-ihp100,可以安裝通用性強、使用方便的能譜儀x射線探測器,組合使用wds和eds,能提供無縫、舒適的分析環(huán)境。
更新時間:2026-01-07
日本JEOL 聚焦離子束加工觀察系統(tǒng)
日本jeol 聚焦離子束加工觀察系統(tǒng) jib-4000,配置了高性能的離子鏡筒(單束fib裝置)。被加速了的鎵離子束經(jīng)聚焦照射樣品后,就能對樣品表面進行sim觀察 、研磨,沉積碳和鎢等材料。還可以為tem成像制備薄膜樣品,為觀察樣品內部制備截面樣品。通過與sem像比較,sim像能清楚地顯示出歸因于晶體取向不同的電子通道襯度差異,這些都非常適合于評估多層鍍膜的截面及金屬結構。
更新時間:2026-01-07
日本JEOL 雙束加工觀察系統(tǒng)
日本jeol 雙束加工觀察系統(tǒng) jib-4700f,該設備的sem鏡筒中采用了超級混合圓錐形物鏡、gb模式和in-lens檢測器系統(tǒng),在1kv低加速電壓下,實現(xiàn)了1.6nm的保證分辨率,與最大能獲得300na探針電流的浸沒式肖特基電子槍組合,可以進行高分辨率觀察和高速分析。
更新時間:2026-01-07
日本JEOL 能量色散型X射線熒光分析儀
日本jeol 能量色散型x射線熒光分析儀 jsx-1000s,采用觸控屏操作、提供更加簡便迅速的元素分析。具備常規(guī)定性、定量分析(fp法・檢量線法)、rohs元素篩選功能等。利用豐富的硬件/軟件選配件、還能進行更廣泛的分析。
更新時間:2026-01-07
國儀量子高分辨率場發(fā)射掃描電鏡
國儀量子場發(fā)射掃描電鏡sem5000,可實現(xiàn)低電壓高分辨成像,磁性樣品也可適用,豐富的接口,滿足多樣的需求,精心設計的人機交互方便操作,快速上手
更新時間:2026-01-07
國儀量子高分辨低真空鎢燈絲掃描電鏡
sem3200是一款高性能、應用廣泛的通用型鎢燈絲掃描電子顯微鏡。擁有出色的成像質量、可兼容低真空模式、在不同的視場范圍下均可得到高分辨率圖像。大景深,成像富有立體感。豐富的擴展性,助您在顯微成像的中盡情探索。
更新時間:2026-01-07
超高分辨場發(fā)射掃描電子顯微鏡
sem5000x是一款超高分辨率場發(fā)射掃描電子顯微鏡,其分辨率達到了突破性的0.6 nm@15 kv和1.0 nm@1 kv。高分辨物鏡設計、高壓隧道技術(supertunnel)以及鏡筒工藝升,實現(xiàn)了低電壓分辨率的進一步提升。全新設計的樣品倉,擴展接口增加至16個,快速換樣倉大支持8寸晶圓(大直徑208 mm),大擴展應用范圍。高掃描模式和自動功能增強,帶來了更強的性能和更好的體驗。
更新時間:2026-01-07
聚焦離子束電子束雙束顯微鏡
db500擁有自主可控的場發(fā)射電子鏡筒和“承影”離子鏡筒,是一款優(yōu)雅全能的納米分析和制樣工具。高壓隧道技術(supertunnel)、低像差無漏磁物鏡設計,低電壓高分辨率成像,保證納米分析能力?!俺杏啊彪x子鏡筒采用液態(tài)鎵離子源,擁有高穩(wěn)定、高質量的離子束流,保證納米加工能力。集成式的納米機械手、氣體注入器、電子物鏡防污染機構,擁有24個擴展口,配置全面,自主可控,擴展性強,為您打造全能納米分析和加
更新時間:2026-01-07
供應蘇州日立TM4000Ⅱ掃描電鏡
日立tm4000ⅱ掃描電鏡獨特的低真空系統(tǒng)使得樣品不需任何處理即可快速進行觀察。 tm4000ⅱ優(yōu)化提供5kv、10kv、15kv、20kv四種不同電壓下的觀察模式,每種模式下電流4檔可調,并配備4分割背散射探測器,可采集四個不同方向的圖像信息,對樣品進行多種模式成像。具有全新的sem-map導航功能,同時,電鏡圖片可以報告形式導出。配備大型樣品倉,可容納大樣品直徑80mm,厚度50mm。
更新時間:2026-01-06
供應蘇州日立FlexSEM1000 II鎢燈絲掃描電鏡
flexsem1000 ii是日立新的落地式小型鎢燈絲掃描電鏡,具有體積小、操作簡單、性能強、擴展功能豐富等特點。flexsem1000 ii配備了二次電子探測器和背散射電子探測器,可以觀察樣品的形貌和成分;同時具有低真空功能,可以直接觀察不導電樣品和含水樣品;配合新增的sem-map光鏡導航和5軸樣品臺可以快速、高效的完成觀察任務。
更新時間:2026-01-06
供應蘇州日立TM4000Ⅱ掃描電鏡
日立tm4000ⅱ掃描電鏡獨特的低真空系統(tǒng)使得樣品不需任何處理即可快速進行觀察。 tm4000ⅱ優(yōu)化提供5kv、10kv、15kv、20kv四種不同電壓下的觀察模式,每種模式下電流4檔可調,并配備4分割背散射探測器,可采集四個不同方向的圖像信息,對樣品進行多種模式成像。具有全新的sem-map導航功能,同時,電鏡圖片可以報告形式導出。配備大型樣品倉,可容納大樣品直徑80mm,厚度50mm。
更新時間:2026-01-06
供應蘇州日立TM4000Ⅱ掃描電鏡
日立tm4000ⅱ掃描電鏡獨特的低真空系統(tǒng)使得樣品不需任何處理即可快速進行觀察。 tm4000ⅱ優(yōu)化提供5kv、10kv、15kv、20kv四種不同電壓下的觀察模式,每種模式下電流4檔可調,并配備4分割背散射探測器,可采集四個不同方向的圖像信息,對樣品進行多種模式成像。具有全新的sem-map導航功能,同時,電鏡圖片可以報告形式導出。配備大型樣品倉,可容納大樣品直徑80mm,厚度50mm。
更新時間:2026-01-06
供應蘇州日立FlexSEM1000 II鎢燈絲掃描電鏡
flexsem1000 ii是日立新的落地式小型鎢燈絲掃描電鏡,具有體積小、操作簡單、性能強、擴展功能豐富等特點。flexsem1000 ii配備了二次電子探測器和背散射電子探測器,可以觀察樣品的形貌和成分;同時具有低真空功能,可以直接觀察不導電樣品和含水樣品;配合新增的sem-map光鏡導航和5軸樣品臺可以快速、高效的完成觀察任務。
更新時間:2026-01-06
供應日立SU9000新型超高分辨冷場發(fā)射掃描電鏡
日立2011年新推出了su9000超高分辨冷場發(fā)射掃描電鏡,達到掃描電鏡世界最高二次電子分辨率0.4nm和stem分辨率0.34nm。日立su9000采取了全新改進的真空系統(tǒng)和電子光學系統(tǒng),不僅分辨率性能明顯提升,而且作為一款冷場發(fā)射掃描電鏡甚至不需要傳統(tǒng)意義上的flashing操作,可以高效率的快速獲取樣品超高分辨掃描電鏡圖像。 特點: 1. 新型
更新時間:2026-01-06
供應蘇州日立S-3400N掃描電子顯微鏡
s­-3400n掃描電子顯微鏡 s-3400n具有最新開發(fā)的電子光學系統(tǒng),強大的自動化功能,操作更簡易。 特點: 1. s-3400n具有強大的自動功能,包括自動燈絲飽和、4偏壓、自動槍對中、自動束流設定、 自動合軸自動聚焦和消像散、自動亮度對比度等。 2. 在3kv低加速電壓時
更新時間:2026-01-06
供應蘇州日立S-3700N 多功能分析型可變壓掃描電鏡
s-3700n 多功能分析型可變壓掃描電鏡 研究超大,超重,超高樣品的分析型掃描電鏡 ● 最大可載樣品直徑達300mm ●最大觀察區(qū)域直徑達203mm ● 在觀察110mm高樣品時可進行能譜分析 ● 樣品室設置多種接口,可安裝eds、wds、ebsd和cl等多種分析用附件 ● 5軸優(yōu)中心馬達臺可以傾
更新時間:2026-01-06
日本電子掃描電子顯微鏡
日本電子掃描電子顯微鏡jcm-700強大的"zeromag"功能,讓您從光學顯微鏡的觀察方式,輕松的無縫接軌到掃描電鏡的影像觀察。"live analysis"則實現(xiàn)了sem影像觀察時實時的eds成份分析。
更新時間:2026-01-06
上海祥樹供應IPF備件歐洲進口
上海祥樹歐茂機電設備有限公司成立于1999年,經(jīng)過多年的努力與良好的信譽度,公司與國際機電行業(yè)品牌twk、mts、hydac、masterk、weber、radio-energie、lenord bauer、elcis、ipf、hemomatik等千余家品牌廠商密切合作,形成了個穩(wěn)定而高效的全球化國際供應鏈體系,竭盡全力為客戶提供服務。
更新時間:2026-01-05
上海祥樹供應MOOG備件歐洲進口
上海祥樹歐茂機電設備有限公司成立于1999年,經(jīng)過多年的努力與良好的信譽度,公司與國際機電行業(yè)品牌twk、mts、hydac、masterk、weber、radio-energie、lenord bauer、elcis、ipf、hemomatik等千余家品牌廠商密切合作,形成了個穩(wěn)定而高效的全球化國際供應鏈體系,竭盡全力為客戶提供服務。
更新時間:2026-01-05
上海祥樹供應Endevco電纜
上海祥樹歐茂機電設備有限公司成立于1999年,經(jīng)過多年的努力與良好的信譽度,公司與國際機電行業(yè)品牌twk、mts、hydac、masterk、weber、radio-energie、lenord bauer、elcis、ipf、hemomatik等千余家品牌廠商密切合作,形成了個穩(wěn)定而高效的全球化國際供應鏈體系,竭真探頭盡全力為客戶提供服務。
更新時間:2026-01-05
萬能工具顯微鏡
本儀器具有較高的測量精度,適用于長度和角度的精密測量;同時由于配備有多種附件,使其使用范圍得到充分的擴大。應用計算機輔助測量,能解決各種復雜的二維測量問題,主要的測量對象有:刀具、量具、模具、樣板、螺紋和齒輪類工作等
更新時間:2026-01-05
掃描電子顯微鏡 日本電子 JEOL
臺式掃描電鏡 jcm-6000 neoscope經(jīng)濟實惠,補充和發(fā)展了光學顯微鏡和傳統(tǒng)掃描電子顯微鏡。 該neoscope像數(shù)碼相機一樣操作簡單, 在輕松獲得大倍數(shù)圖像的同時,保持著高分辨率和大景深,具有掃描電子顯微鏡的強大電子光學性能。
更新時間:2026-01-05
臺式掃描電子顯微鏡
intouchscope觸控式電子顯微鏡jsm-6010la / jsm-6010lv是一款高效能、操作容易、高效率的電子顯微鏡。全新設計的intouchscope操作界面,即便是初次使用儀器的人員也能輕松上手。面對越來越多元化的操作環(huán)境需求,jsm-6010的操作設計,能讓您更輕松、有效率的使用儀器。
更新時間:2026-01-05
掃描電子顯微鏡價格
掃描電子顯微鏡jsm-6010系列觸控式電子顯微鏡jsm-6010la / jsm-6010lv是一款高效能、操作容易、高效率的電子顯微鏡。全新設計的intouchscope操作界面,即便是初次使用儀器的人員也能輕松上手。
更新時間:2026-01-05
掃描電子顯微鏡JSM-6510日本電子(JEOL)
sem掃描電子顯微鏡 jsm-6510系列jsm-6510是一款高性能低價格的掃描電子顯微鏡,。可按用戶要求定做的操作接口便于用戶直觀操作儀器。smile shot™軟件保證得到最佳電子光學參數(shù)。jsm-6510的lgs型大樣品臺和gs型普通樣品臺可分別裝6英寸直徑和32mm直徑的樣品。
更新時間:2026-01-05
JCM-6000PLUS桌上型掃描電鏡
顯微鏡+影像觀察+成份分析+尺規(guī)量測
更新時間:2026-01-05
FEI臺式掃描電鏡Phenom飛納 標準版
第六代 phenom pure 是一款使用高亮度 ceb6 燈絲的高分辨臺式掃描電鏡。放大倍數(shù) 175,000 倍,用于觀察亞微米樣品的微觀結構。pure 具有全自動操作、15 快速抽真空、不噴金觀看絕緣體、2-3 年更換燈絲等特點,適用于傳統(tǒng)大電鏡待測樣品的快速篩選,也適合于光學顯微鏡的分辨率無法滿足需求的客戶。
更新時間:2026-01-05

最新產(chǎn)品

熱門儀器: 液相色譜儀 氣相色譜儀 原子熒光光譜儀 可見分光光度計 液質聯(lián)用儀 壓力試驗機 酸度計(PH計) 離心機 高速離心機 冷凍離心機 生物顯微鏡 金相顯微鏡 標準物質 生物試劑